每天都將計算機鍵盤用於世界各地的辦公室，工廠和房屋。鍵盤製造商面臨的最大挑戰之一是鍵的長期耐久性性能，這些鍵可能會因打字而重複負載。

這種動態測試的目的是複制鑰匙的正常手指按壓，從抬起到彈簧反應再到鑰匙觸底時的完整壓縮接合。

在此測試中，我們使用了配備了低容量Kason和簡單壓縮壓板的Kason E1000測試儀器來執行測試。選擇了一個現成的鍵盤，並使用兩個支撐塊安裝在T-Slot表上。

在任何組件測試中，必須將負載電池安裝為上移動執行器，以提供準確的負載測量。使用Dynacell負載電池的內部特徵，建立了自動補償，以克服在非常低的負載下慣性力的問題。

我們手動慢跑了執行器以確立昇降點的絕對位置，並平衡了數字編碼器。使用默認位置增益，在位置控制中以5 Hz運行正弦波形。然後實現三模式控制，以提供-2.5 n的下載荷峰的外迴路控制，並在鑰匙上方的編碼器控制中脫離正升升。在測試期間監視的位置和負載曲線，負載曲線顯示了完整的參與度，彈簧彈射和提升階段。